41. Algoritms and Parallel VLSI Architectures Lectures and Tutorials Presented at (Proceedings of) the International Workshop on Algoritms and Parallel VLSI Architectures Abbaye des Premontres Pont - a - Mosson. France,. June 10 - 16, 1990
المؤلف: / Edited by Ed F. Deprettere, Alle - Jan Van Der veen
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه تهران (طهران)
موضوع: Parallel Processing (Electronic computers) -- Congresses,Integrated Circuits -- Very large scale integration -- Desige and construction -- Congresses,Computer algorithms --Congresses,Computer architecture -- Congresses
رده :
QA
76
.
58
.
I57
1990
42. An artificial intellgence approach to VLSI routing
المؤلف: Joobbani, Rostam.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Design and construction - Data processing ، Integrated circuits,، Expert systems )Computer science(
رده :
TK
7874
.
J663
1986
43. An artificial intelligence approach to VLSI design
المؤلف: / Thaddeus J. Kowalski
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration,Artificial intelligence,Expert systems (Computer science),Digital electronics
رده :
TK
7874
.
K675
1985
44. An artificial intelligence approach to VLSI routing
المؤلف: Joobbani, Rostam.
المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction- Data processing,، Expert systems )Computer science(
رده :
TK
7874
.
J663
1986
45. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: Singh, Narinder
المکتبة: (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing , Expert systems )Computer science( , Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
46. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: Singh, Narinder, 6591-
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
47. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
48. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
49. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
50. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
51. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: by Narinder Singh
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
,
7874
,.
S533
,
1987
52. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
53. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: Singh, Narinder, 6591-
المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1987
54. An artificial intelligence approxch to VLSI design
المؤلف: Kowalski, Thaddeus J.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration ، Integrated circuits,، Artificial intelligence,، Expert systems )Computer science(,، Digital electronics
رده :
TK
7874
.
K675
1985
55. An introduction to VLSI physical design
المؤلف: Sarrafzadeh, Majid.
المکتبة: (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction - Data processing , Computer-aided design
رده :
TK
7874
.
75
.
S27
1996
56. An introduction to VLSI physical design
المؤلف: / M. Sarrafzadeh, C.K. Wong
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration--Computer-aided design
رده :
TK
,
7874
.
75
,.
S27
,
1996
57. An introduction to VLSI physical design
المؤلف: Sarrafzadeh, Majid.
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing,، Computer-aided design
رده :
TK
7874
.
75
.
S27
1996
58. An introduction to VLSI physical design
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Integrated circuits ; Very large scale integration ; Design and construction ; Data processing. ;
59. An introduction to logic circuit testing /
المؤلف: Parag K. Lala
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing
